ХИМИКОТЕХНОЛОГИЧЕН
И
МЕТАЛУРГИЧЕН
УНИВЕРСИТЕТ -
София
Код:m212 |
Наименование
/от
изданието с
уч. планове/:
Полупроводници |
|
Семестър: 3 |
Специалности, в които се изучава: Материалознание
на
английски
език |
|
Цели
на курса: Да
запознае
студентите
с основите
на
полупроводниковите
материали и
да направи
обзор на
полупроводниците
и тяхната
практическа
приложимост;
да приложи принципите
на физиката
на твърдото
тяло за
изучаване
на
полупроводниковите
материали и
устройства;
да научи
студентите
на основните
принципи
при
оформяне и
производство
на прибори;
да запознае
с
технологиите
използвани
с модерната
микро- и
наноелектроника. |
||
Интердисциплинарни връзки Ø
входящи:
Физика,
Физика и
Химия на
твърдото
тяло, Общо
материалознание,
Инструментални
методи за анализ. Ø изходящи / кои са дисциплините, за които знанията и опита от курса за най-значими/: всички специализиращи инженерни дисциплини. |
||
Съдържание на курса: Ø основни раздели на лекциите: квантова теория на твърдото тяло; методи за получаване на полупроводникови материали и прибори; методи за изследване на полупроводниците; електрични, оптични и магнитни свойства на полупроводниците и базирани на тях уреди и устройства. Ø семинарни и лабораторни занятия и връзките им с лекционния курс: лабораторните занятия са съобразени със съдържанието на лекционния курс. |
||
Система за кредити. Разпределение на кредитите по видове дейности: Аудиторна заетост: 2 к. - 20 / часа/ Извънаудиторна заетост: 2 к.: 1. Подготовка за писмен изпит - 1,0 к.; 2. Участие в препитване по лекционния материал през семестъра – 0,5 к.; 3. Решаване на задачи като домашна работа – 0,5 к.; 4. Подготовка за колоквиум по теми от лекционния материал - 0,5 к.; 5. Изготвяне на реферати – 0,5 к.; 6. Презентация – 0,2 к ; 7. Работа в интернет – 0,3 к .
|
||
Учебни пособия: Издадени
от ХТМУ. 1. Ръководство по ФПП, Хр.Воденичаров, Св.Първанов, 2001. Друга
препоръчителна
литература. 1. Fundamentals of Semiconductors, M.Cardona, Springer, 2001. 2. Semiconductors, R.Smith, Cambridge University, UK, 1998. 3. Semiconductor Micromaching, S.Camble, H.Leberenz, N.Y.Wiley, 1998. |
||
Система за контрол: Ø Форми: изпит; Ø Методи: препитване, презентация; Ø формиране на оценката: по формула, включваща резултатите от отделните форми на изпитване. |
Поддържане на обратна връзка студенти – преподаватели. /Методики по Системата за осигуряване на качеството на обучението и други начини за обратна връзка, разработвани специализирано за курса/............................................... |
|
Забележка:
Задължително
името на
файла трябва
да бъде
идентично с
кода на
дисциплината.